disk via a vapor deposition process

disk via a vapor deposition process. Figure 6 shows the
HDI charge measurements for two head–disk combinations:
uncoated head on the un-lubed disk (sold triangle),
and PFDTS coated head on PFDTS coated disk
(solid square). As can be seen from Figure 6, the PW50
vs. voltage curve for the PFDTS coated head and disk is
very symmetric or the contact potential is close to zero.
This result strongly suggests that the measured HDI
charge or contact potential is dominated by surface
potential of the surface coating, and that the contributions
from contact potential in vacuum or intrinsic
property of carbon coated head and disk are very small.
This is consistent with the observation that resistivity of
COC had little effect on the contact potential measurements
[8,9]. The small HDI charge between PFDTS
coated magnetic heads and Z-dol coated magnetic disk
appears to be related to the fluorinated carbon rather
than end group [9], since PFDTS and Z-dol have very
different end groups (–CF3 for PFDTS and –CH2–OH
for Z-dol). More work is needed to understand the
effects of end group on HDI charge.

Hasil (Bahasa Indonesia) 1:

disk melalui proses pengendapan Uap. Gambar 6 menunjukkanIPM biaya pengukuran untuk dua kepala-disk kombinasi:uncoated kepala pada disk un lubed (dijual segitiga),dan PFDTS dilapisi kepala pada disk dilapisi PFDTS(Alun-alun padat). Seperti yang dapat dilihat dari angka 6, PW50vs tegangan kurva untuk kepala dilapisi PFDTS dan disk adalahsangat simetris atau potensi kontak adalah mendekati nol.Hasil ini sangat menyarankan bahwa IPM diukurbiaya atau kontak potensi didominasi oleh permukaanpotensi lapisan permukaan, dan bahwa kontribusidari kontak potensial dalam kekosongan atau intrinsikProperti karbon dilapisi kepala dan disk sangat kecil.Ini konsisten dengan pengamatan bahwa resistivitasCOC memiliki sedikit efek pada pengukuran potensial kontak[8,9]. biaya IPM kecil antara PFDTSdilapisi magnetic kepala dan Z-dol dilapisi disk magnetiktampaknya berkaitan dengan karbon fluorinated agakdari akhir grup [9], karena PFDTS dan Z-dol memiliki sangatakhir yang berbeda kelompok (OH-CF3 untuk PFDTS dan -CH2-untuk Z-dol). Lebih banyak pekerjaan yang diperlukan untuk memahamiefek akhir grup pada biaya IPM.

Hasil (Bahasa Indonesia) 2:

disk yang melalui proses deposisi uap. Gambar 6 menunjukkan
pengukuran IPM biaya untuk dua kombinasi kepala-disk:
uncoated kepala di un-lubed disk yang (dijual segitiga),
dan PFDTS dilapisi kepala di PFDTS dilapisi hard disk
(padat persegi). Seperti dapat dilihat dari Gambar 6, PW50
vs kurva tegangan untuk PFDTS dilapisi kepala dan disk
sangat simetris atau potensi kontak dekat dengan nol.
Hasil ini sangat menunjukkan bahwa IPM diukur
biaya atau kontak potensial didominasi oleh permukaan
potensial dari lapisan permukaan, dan bahwa kontribusi
dari potensi kontak dalam hampa udara atau intrinsik
milik kepala karbon dilapisi dan disk yang sangat kecil.
Hal ini konsisten dengan pengamatan bahwa resistivitas
COC tak banyak berpengaruh pada kontak potensial pengukuran
[8,9]. Biaya HDI kecil antara PFDTS
dilapisi kepala magnetik dan Z-dol dilapisi magnetic disk
tampaknya terkait dengan karbon fluorinated bukan
dari kelompok akhir [9], karena PFDTS dan Z-dol sudah sangat
kelompok akhir yang berbeda (-CF3 untuk PFDTS dan - CH2-OH
untuk Z-dol). Banyak pekerjaan yang diperlukan untuk memahami
efek dari kelompok berakhir pada HDI biaya.